Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE C62.59-2019
IEEE Standard for Test Methods and Preferred Values for Silicon PN-Junction Clamping Diodes
NORMA vydaná dňa 31.10.2019
Informácie o norme:
Označenie normy: IEEE C62.59-2019
Dátum vydania normy: 31.10.2019
Kód tovaru: NS-974480
Počet strán: 41
Približná hmotnosť: 123 g (0.27 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Anotácia textu normy IEEE C62.59-2019 :
New IEEE Standard - Active.
Supersedes IEEE C62.35-2010 and IEEE C62.35-2010/Cor1-2018. The basic electrical parameters to be met by silicon PN junction voltage clamping components used for the protection of telecommunications equipment or lines from surges are defined in this standard. It is intended that this standard be used for the harmonization of existing or future specifications issued by PN diode surge protective component manufacturers, telecommunication equipment manufacturers, administrations, or network operators.
ISBN: 978-1-5044-6119-1, 978-1-5044-6120-7
Number of Pages: 41
Product Code: STD23860, STDPD23860
Keywords: avalanche breakdown, electrical characteristics, electrical ratings, foldback, forward conduction, IEEE C62.59, overvoltage protection, punch-through, surge protective component (SPC), test methods, Zener breakdown
Category: Surge-Protective Devices
Doporučujeme:
