Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE Recommended Practice on Characterization of Surges in Low-Voltage (1000 V and Less) AC Power Circuits
NORMA vydaná dňa 14.7.2026
Označenie normy: IEEE C62.41.2-2025
Dátum vydania normy: 14.7.2026
Kód tovaru: NS-1276268
Počet strán: 50
Približná hmotnosť: 150 g (0.33 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Revision Standard - Active.
The surge environment at locations on ac power circuits described in IEEE Std C62.41.1™ is characterized in this recommended practice by means of standardized waveforms and other stress parameters. The surges considered in this recommended practice do not exceed one half-cycle of the normal mains waveform (fundamental frequency) in duration. They can be periodic or random events and can appear in any combination of line, neutral, or grounding conductors. They include surges with amplitudes, durations, or rates of change sufficient to cause equipment damage or operational upset. While surge protective devices (SPDs) acting primarily on the amplitude of the voltage or current are often applied to divert the damaging surges, the upsetting surges might require other remedies.
ISBN: 979-8-8557-2792-0, 979-8-8557-3582-6, 979-8-8557-3583-3
Number of Pages: 50
Product Code: STDAPE28397, STD28924, STDPD28924
Keywords: Combination Wave, IEEE C62.41.2, lightning surge, location category, low?voltage ac power circuit, Ring Wave, surge environment, surge protective device, surge withstand, switching surge, trilogy
Category: Surge-Protective Devices
Draft Number: PC62.41.2/D4, Oct 2025 - APPROVED DRAFT
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-08-10 (Počet položiek: 2 292 404)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.