Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE C62.35-2010
IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components
Automaticky preložený názov:
IEEE Štandardné skúšobné metódy pre Avalanche Junction polovodičových Surge-ochranné prvky Device
NORMA vydaná dňa 31.8.2010
Informácie o norme:
Označenie normy: IEEE C62.35-2010
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 31.8.2010
Kód tovaru: NS-417567
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Doporučujeme:
