Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE 300-1988
IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors
Automaticky preložený názov:
IEEE štandard Skúšobné postupy pre polovodičové nabitých častíc Detektory
NORMA vydaná dňa 29.12.1988
Informácie o norme:
Označenie normy: IEEE 300-1988
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 29.12.1988
Kód tovaru: NS-416270
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Doporučujeme:
