Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE Standard for Fault Accounting and Coverage Reporting(FACR) for Digital Modules
NORMA vydaná dňa 31.1.2018
Označenie normy: IEEE 1804-2017
Dátum vydania normy: 31.1.2018
Kód tovaru: NS-936175
Počet strán: 29
Približná hmotnosť: 87 g (0.19 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
New IEEE Standard - Active.
The standard formalizes aspects of fault models as they are relevant to the generation of test patterns for digital circuits. Its scope includes (i) fault counting, (ii) fault classification, and (iii) fault coverage reporting across different ATPG (automatic test pattern generation) tools, for the single stuck-at fault model. With this standard, it shall be incumbent on all ATPG tools (which comply with this standard) to report fault coverage in a uniform way. This will facilitate the generation of a uniform coverage (and hence a uniform test quality) metric for large chips (including systems-on-chips – SOCs) with different cores and modules, for which test patterns have been independently generated.
ISBN: 978-1-5044-4317-3, 978-1-5044-4318-0
Number of Pages: 29
Product Code: STD22771, STDPD22771
Keywords: ATPG, DFT, fault models, fault simulation, IEEE 1804, semiconductor testing, stuck-at faults, test coverage.
Category: Test Technology
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-07-29 (Počet položiek: 2 339 192)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.