Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device
Automaticky preložený názov:
IEEE štandard pre prístup a kontrolu prístrojovej Embedded v polovodičové zariadenia,
NORMA vydaná dňa 5.12.2014
Označenie normy: IEEE 1687-2014
Dátum vydania normy: 5.12.2014
Kód tovaru: NS-416080
Počet strán: 283
Približná hmotnosť: 880 g (1.94 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
New IEEE Standard - Active.
A methodology for accessing instrumentation embedded within a semiconductor device, without defining the instruments or their features themselves, via the IEEE 1149.1(TM) test access port (TAP) and/or other signals, is described in this standard. The elements of the methodology include a hardware architecture for the on-chip network connecting the instruments to the chip pins, a hardware description language to describe this network, and a software language and protocol for communicating with the instruments via this network.
ISBN: 978-0-7381-9416-5, 978-0-7381-9417-2
Number of Pages: 283
Product Code: STD20033, STDPD20033
Keywords: access network, built-in self-test (BIST), boundary scan, debug, design for testability (DFT), embedded instruments, IEEE 1149.1(TM), IEEE 1687(TM), Instrument Connectivity Language (ICL), internal JTAG (IJTAG), Joint Test Action Group (JTAG), on-chip instrumentation, Procedural Description Language (PDL), test, Tool Command Language (Tcl)
Category: Test Technology
Posledná aktualizácia: 2024-07-29 (Počet položiek: 2 339 192)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.