Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE 1620-2008
IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
Automaticky preložený názov:
IEEE štandard pre skúšobné metódy pre charakterizáciu organických tranzistorov a materiálov
NORMA vydaná dňa 5.12.2008
Informácie o norme:
Označenie normy: IEEE 1620-2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 5.12.2008
Kód tovaru: NS-416000
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Doporučujeme:
