Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
Automaticky preložený názov:
Štandardné skúšobných metód na charakterizáciu organických tranzistorov a materiálov
NORMA vydaná dňa 29.4.2004
Označenie normy: IEEE 1620-2004
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 29.4.2004
Kód tovaru: NS-415999
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Posledná aktualizácia: 2025-09-22 (Počet položiek: 2 235 431)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.