NEPLATNÁ IEEE 1620-2004 29.4.2004 náhľad

IEEE 1620-2004

Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials

Automaticky preložený názov:

Štandardné skúšobných metód na charakterizáciu organických tranzistorov a materiálov



NORMA vydaná dňa 29.4.2004


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena130.30 bez DPH
130.30

Informácie o norme:

Označenie normy: IEEE 1620-2004
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 29.4.2004
Kód tovaru: NS-415999
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.