Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505
Automaticky preložený názov:
IEEE štandard pre Common Interface testovacie Pin Mapa konfigurácie pre high-density, Single-Tier Electronics Skúšobné požiadavky Využitie IEEE Std 1505
NORMA vydaná dňa 1.8.2013
Označenie normy: IEEE 1505.1-2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.8.2013
Kód tovaru: NS-415872
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Posledná aktualizácia: 2025-11-10 (Počet položiek: 2 243 715)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.