Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE 1181-1991
IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for CMOS and BiCMOS Integrated- Circuit Process Characterization
Automaticky preložený názov:
IEEE Odporúčaná prax pre Latchup testovacie metódy pre CMOS a BiCMOS Integrated- Circuit procesu charakterizácie
NORMA vydaná dňa 13.12.1991
Informácie o norme:
Označenie normy: IEEE 1181-1991
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 13.12.1991
Kód tovaru: NS-415534
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
