Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for CMOS and BiCMOS Integrated- Circuit Process Characterization
Automaticky preložený názov:
IEEE Odporúčaná prax pre Latchup testovacie metódy pre CMOS a BiCMOS Integrated- Circuit procesu charakterizácie
NORMA vydaná dňa 13.12.1991
Označenie normy: IEEE 1181-1991
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 13.12.1991
Kód tovaru: NS-415534
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-11-02 (Počet položiek: 2 209 038)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.