Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Photovoltaic modules - Bypass diode electrostatic discharge susceptibility testing
NORMA vydaná dňa 10.4.2017
Označenie normy: IEC/TS 62916-ed.1.0
Dátum vydania normy: 10.4.2017
Kód tovaru: NS-680826
Počet strán: 13
Približná hmotnosť: 39 g (0.09 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
IEC TS 62916:2017(E) describes a discrete component bypass diode electrostatic discharge (ESD) immunity test and data analysis method. The test method described subjects a bypass diode to a progressive ESD stress test and the analysis method provides a means for analyzing and extrapolating the resulting failures using the two-parameter Weibull distribution function. It is the object of this document to establish a common and reproducible test method for determining diode surge voltage tolerance consistent with an ESD event during the manufacturing, packaging, transportation or installation processes of PV modules.
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2025-01-20 (Počet položiek: 2 220 867)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.