Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC/TS 62878-2-4-ed.1.0
Device embedded substrate - Part 2-4: Guidelines - Test element groups (TEG)
Automaticky preložený názov:
Device vložený substrát - Časť 2-4: Smernica - kontrolný prvok skupiny (TEG)
NORMA vydaná dňa 27.3.2015
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC/TS 62878-2-4-ed.1.0
Dátum vydania normy: 27.3.2015
Kód tovaru: NS-583707
Počet strán: 75
Približná hmotnosť: 225 g (0.50 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Tištěné obvody a desky s plošnými spoji
Soustavy elektronických komponentů
Anotácia textu normy IEC/TS 62878-2-4-ed.1.0 :
IEC TS 62878-2-4:2015 describes the test element group devices useful when measuring basic properties of device embedded substrates. It is applicable to device embedded substrates fabricated by use of organic base material, which include for example active or passive devices, discrete components formed in the fabrication process of electronic wiring board, and sheet formed components. LIEC TS 62878-2-4:2015 decrit les appareils du groupe delements dessai utiles pour mesurer les proprietes de base des substrats avec appareil(s) integre(s). Il est applicable aux substrats avec appareil(s) integre(s) fabriques a partir de materiaux de base organiques, y compris par exemple les appareils actifs ou passifs, les composants discrets formes lors du processus de fabrication dune carte de cablage electronique, ainsi que les composants de feuilles minces.
Podobné normy:
27.11.2008
29.11.2012
19.12.2001
29.11.2012
21.4.2010
21.4.2010
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
