Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC/TS 62804-1-ed.1.0
Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1: Crystalline silicon
Automaticky preložený názov:
Fotovoltaickej ( PV ) moduly - Skúšobné metódy pre detekciu potenciálneho vyvolané degradácie - Časť 1 : kryštalického kremíka
NORMA vydaná dňa 6.8.2015
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC/TS 62804-1-ed.1.0
Dátum vydania normy: 6.8.2015
Kód tovaru: NS-613097
Počet strán: 15
Približná hmotnosť: 45 g (0.10 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC/TS 62804-1-ed.1.0 :
IEC TS 62804-1:2015(E) defines procedures to test and evaluate the durability of crystalline silicon photovoltaic (PV) modules to the effects of short-term high-voltage stress including potential-induced degradation (PID). Two test methods are defined that do not inherently produce equivalent results. They are given as screening tests; neither test includes all the factors existing in the natural environment that can affect the PID rate. The methods describe how to achieve a constant stress level. The testing in this Technical Specification is designed for crystalline silicon PV modules with one or two glass surfaces, silicon cells having passivating dielectric layers, for degradation mechanisms involving mobile ions influencing the electric field over the silicon semiconductor, or electronically interacting with the silicon semiconductor itself.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
