Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC/TS 62804-1-1-ed.1.0
Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1-1: Crystalline silicon - Delamination
NORMA vydaná dňa 10.1.2020
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC/TS 62804-1-1-ed.1.0
Dátum vydania normy: 10.1.2020
Kód tovaru: NS-980807
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC/TS 62804-1-1-ed.1.0 :
IEC 62804-1-1:2020 defines procedures to test and evaluate for potential-induced degradation-delamination (PID-d) mode in the laminate of crystalline silicon PV modules-principally those with one or two glass faces. This document evaluates delamination attributable to current transfer between ground and the module cell circuit. Elements driving the delamination that this test is designed to actuate include reduced adhesion associated with damp heat exposure, sodium accumulation at interfaces, and cathodic gas evolution in the cell circuit, metallization, and other components within the PV module activated by the voltage potential. The change in power of crystalline silicon PV modules associated with the stress factors applied (the purview of IEC TS 62804-1) is not considered in the scope.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
