Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC/TS 62607-6-20-ed.1.0
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-20: Graphene-based material - Metallic impurity content: Inductively coupled plasma mass spectrometry
NORMA vydaná dňa 11.10.2022
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC/TS 62607-6-20-ed.1.0
Dátum vydania normy: 11.10.2022
Kód tovaru: NS-1092140
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC/TS 62607-6-20-ed.1.0 :
IEC TS 62607-6-20:2022 (EN) IEC TS 62607 establishes a standardized method to determine the chemical key control characteristic - metallic impurity content for powders of graphene-based materials by - inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS). The metallic impurity content is derived by the signal intensity of measured elements through MS spectrum of ICP-MS. - The method is applicable for powder of graphene and related materials, including bilayer graphene (2LG), trilayer graphene (3LG), few-layer graphene (FLG), reduced graphene oxide (rGO) and graphene oxide (GO). – The typical application area is in the microelectronics industry, e.g. conductive pastes, displays, etc., for manufacturers to guide material design, and for downstream users to select suitable products.
Odporúčame:
Aktualizácia zákonov
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
