Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-14: Graphene-based material - Defect level: Raman spectroscopy
NORMA vydaná dňa 27.10.2020
Označenie normy: IEC/TS 62607-6-14-ed.1.0
Dátum vydania normy: 27.10.2020
Kód tovaru: NS-1008659
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
IEC TS 62607-6-14:2020 establishes a standardized method to determine the structural key control characteristic • defect level for powders consisting of graphene-based material by • Raman spectroscopy. The defect level is derived by the intensity ratio of the D+D band and 2D band in Raman spectrum, ID+D/I2D. • The defect level determined in accordance with this document will be listed as a key control characteristic in the blank detail specification for graphene IEC 62565-3-1 for graphene powder. • The method is applicable for graphene powder or graphene-based material, e.g. reduced graphene oxide (rGO), bilayer graphene, trilayer graphene and few-layer graphene. • Typical application areas are quality control and classification for graphene manufacturers, and product selection for downstream users. • The method described in this document is appropriate if the physical form of graphene is powder.
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-05-15 (Počet položiek: 2 898 636)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.