Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Device embedded substrate - Part 2-2: Guidelines - Electrical testing
Automaticky preložený názov:
Prístroj vložený substrát - Časť 2-2: Pokyny - elektrické skúšobné
NORMA vydaná dňa 4.12.2015
Označenie normy: IEC/TR 62878-2-2-ed.1.0
Dátum vydania normy: 4.12.2015
Kód tovaru: NS-623041
Počet strán: 29
Približná hmotnosť: 87 g (0.19 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Tištěné obvody a desky s plošnými spoji
Soustavy elektronických komponentů
IEC TR 62878-2-2:2015 describes the necessary information on electrical testing for device embedded substrate. This includes the interconnection open- and short-circuit tests as well as the device functional test. It also provides guidelines by demonstrating the electrical test for device embedded substrate. LIEC 62878-2-2:2015 decrit les informations necessaires aux essais electriques de substrat avec appareil(s) integre(s). Elle decrit en outre les essais dinterconnexion en circuit ouvert et en court-circuit et lessai fonctionnel de lappareil. Elle fournit egalement des directives de demonstration des essais electriques de substrat avec appareil(s) integre(s).
Posledná aktualizácia: 2025-01-21 (Počet položiek: 2 220 867)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.