Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Thermal standardization on semiconductor packages - Part 6: Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points
NORMA vydaná dňa 4.2.2026
Označenie normy: IEC 63378-6-ed.1.0
Dátum vydania normy: 4.2.2026
Kód tovaru: NS-1260468
Počet strán: 29
Približná hmotnosť: 87 g (0.19 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
IEC 63378-6:2026 specifies a thermal resistance and capacitance model for semiconductor packages. This model is named the digital transformation using thermal resistance and capacitance (DXRC) model. It predicts transient temperature at junction and measurement points. This document applies to semiconductor packages such as TO-252, TO-263, and HSOP. It supports single chip packages dissipated heat from single package surface. L’IEC 63378-6:2026 specifie un modele de resistance thermique et de capacite pour les boitiers de semiconducteurs. Ce modele est appele transformation numerique utilisant le modele de resistance et de capacite thermiques (DXRC, Digital transformation using thermal resistance and capacitance). Il predit la temperature transitoire aux points de jonction et de mesure. Le present document s’applique aux boitiers de semiconducteurs tels que TO-252, TO-263 et HSOP. Il prend en charge les boitiers monopuces dissipant la chaleur d’une seule surface du boitier.
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-02-15 (Počet položiek: 2 261 355)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.