Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Integrated circuits - Three dimensional integrated circuits - Part 1: Terminology
NORMA vydaná dňa 28.11.2018
Označenie normy: IEC 63011-1-ed.1.0
Dátum vydania normy: 28.11.2018
Kód tovaru: NS-906033
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
IEC 63011-1:2018 provides definitions pertaining to multichip integrated circuits, as vertically stacked dies using through-silicon vias (TSVs) or micro bumps. Terms and definitions related to the fabrication and test of the multichip integrated circuits are also provided. LIEC 63011-1:2018 donne des definitions relatives aux circuits integres multipuces constitues de puces empilees verticalement a laide de trous de liaison a travers le silicium ou de microbosses. Des termes et definitions relatifs a la fabrication et aux essais des circuits integres multipuces sont egalement fournis.
Posledná aktualizácia: 2024-12-22 (Počet položiek: 2 217 000)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.