Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 62951-9-ed.1.0
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
NORMA vydaná dňa 14.12.2022
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 62951-9-ed.1.0
Dátum vydania normy: 14.12.2022
Kód tovaru: NS-1097061
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 62951-9-ed.1.0 :
IEC 62951-9:2022(E) specifies the test methods for evaluating the performance of unipolar-type one transistor one resistor (1T1R) resistive memory cells. The performance test methods in this document include read, forming, SET, RESET, endurance and retention. This document is applicable to flexible devices as well as rigid resistive memory devices without any limitations prone to device technology and size.
Doporučujeme:
