Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 62951-8-ed.1.0
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 8: Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory
NORMA vydaná dňa 19.1.2023
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 62951-8-ed.1.0
Dátum vydania normy: 19.1.2023
Kód tovaru: NS-1102311
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 62951-8-ed.1.0 :
IEC 62951-8:2023 (E) defines terms and specifies the test method for evaluating the stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory. The test method descriptions include experimental procedures and the equipment to be used. It also includes general requirements for test conditions such as the temperature and relative humidity of the testing environment. The test method described in this document focuses on stability evaluation rather than reliability.
Doporučujeme:
