Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 62951-6-ed.1.0
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films
NORMA vydaná dňa 6.5.2019
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 62951-6-ed.1.0
Dátum vydania normy: 6.5.2019
Kód tovaru: NS-948791
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 62951-6-ed.1.0 :
IEC 62951-6:2019 specifies terms, as well as the test method and report of sheet resistance of the flexible conducting film under bending and folding tests. The measurement methods include the 2-point probe, 4-point probe and Montgomery method, which can be applied to in-situ and ex-situ measurement and the measurements of anisotropic sheet resistance. L’IEC 62951-6:2019 specifie les termes, ainsi que la methode et le rapport d’essai de la resistance de couche d’une couche conductrice souple soumise a des essais de courbure et de pliage. Les methodes de mesurage comprennent la methode de la sonde 2 points, la methode de la sonde 4 points et la methode de Montgomery, qui peuvent etre appliquees a un mesurage sur site ou hors site et aux mesurages de resistance de couche anisotrope.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
