Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 62951-2-ed.1.0
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 2: Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing and threshold voltage of flexible devices
NORMA vydaná dňa 17.4.2019
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 62951-2-ed.1.0
Dátum vydania normy: 17.4.2019
Kód tovaru: NS-947696
Počet strán: 21
Približná hmotnosť: 63 g (0.14 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 62951-2-ed.1.0 :
IEC 62951-2:2019 specifies terms, definitions, symbols, configurations and evaluation methods that can be used to evaluate and determine the performance characteristics of flexible thin-film transistor (TFT) devices. This document specifies test methods and characteristic parameters for accurately evaluating the performance and reliability in practical use of flexible TFT devices under the bending status. L’IEC 62951-2:2019 specifie les termes, definitions, symboles, configurations et methodes d’evaluation pouvant etre utilises pour evaluer et determiner les caracteristiques de performance des dispositifs a transistors en couche mince (TFT) souples. Le present document specifie les methodes d’essai et les parametres caracteristiques permettant d’evaluer precisement, dans le cadre d’une utilisation pratique, la performance et la fiabilite des dispositifs TFT souples soumis a une contrainte de courbure.
Doporučujeme:
