Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test methods for the characterization of organic transistors and materials
Automaticky preložený názov:
Skúšobné metódy pre charakterizáciu organických tranzistorov a materiálov
NORMA vydaná dňa 5.8.2013
Označenie normy: IEC 62860-ed.1.0
Dátum vydania normy: 5.8.2013
Kód tovaru: NS-414921
Počet strán: 23
Približná hmotnosť: 69 g (0.15 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
IEC 62860:2013(E) covers recommended methods and standardized reporting practices for electrical characterization of printed and organic transistors. Due to the nature of printed and organic electronics, significant measurement errors can be introduced if the electrical characterization design-of-experiment is not properly addressed. This standard describes the most common sources of measurement error, particularly for high-impedance electrical measurements commonly required for printed and organic transistors. This standard also gives recommended practices in order to minimize and/or characterize the effect of measurement artifacts and other sources of error encountered while measuring printed and organic transistors. Keywords: electrical characterization, FET, flexible electronics, high impedance, nanocomposite, nanotechnology, OFET, organic electronics, organic transistor, printed electronics, printing, transistor
Posledná aktualizácia: 2024-09-04 (Počet položiek: 2 346 114)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.