Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments
Automaticky preložený názov:
Norma pre rozšírenie na štandardné testovacie rozhranie jazyka (Stil) pre polovodičové dizajn prostredia
NORMA vydaná dňa 7.11.2007
Označenie normy: IEC 62526-ed.1.0
Dátum vydania normy: 7.11.2007
Kód tovaru: NS-414729
Počet strán: 123
Približná hmotnosť: 400 g (0.88 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Provides an interface between digital test generation tools and test equipment. A test description language is defined that:(a) facilitates the transfer of digital test vector data from CAE to ATE environments;(b) specifies patten, format, and timing information sufficant to define the application of digital test vectors to a DUT;and (c) supports the volume of test vector data generated from structured tests.
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-09-27 (Počet položiek: 2 350 600)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.