Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
Automaticky preložený názov:
Štandardné skúšobné postupy pre energetické spektrometre polovodič X-ray
NORMA vydaná dňa 1.1.1983
Označenie normy: IEC 60759-ed.1.0
Dátum vydania normy: 1.1.1983
Kód tovaru: NS-411435
Počet strán: 97
Približná hmotnosť: 322 g (0.71 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Donne les methodes dessais normalises des spectrometres denergie X a semicteur constitues dun semicteur et de lelectronique de traitement du signal lies par une interface a un analyseur damplitude couple a un calculateur.
Amendment 1 - Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
(Amendement 1 - Methodes d´essais normalises des spectrometres d´energie X a semicteur)
Zmena vydaná dňa 15.11.1991
Vybraný formát:
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-01-28 (Počet položiek: 2 257 539)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.