Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60749-4-ed.2.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
NORMA vydaná dňa 3.3.2017
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60749-4-ed.2.0
Dátum vydania normy: 3.3.2017
Kód tovaru: NS-677381
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60749-4-ed.2.0 :
IEC 60749-4:2017 provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a) clarification of requirements for temperature, relative humidity and duration detailed in Table 1; b) recommendations that current limiting resistor(s) be placed in the test set-up to prevent test board or DUT damage; c) allowance of additional time-to-test delay or return-to-stress delay. L’IEC 60749-4:2017 decrit un essai de contrainte de temperature et d’humidite fortement accelere (HAST, highly accelerated temperature and humidity stress test) qui est realise dans le but d’evaluer la fiabilite des dispositifs a semiconducteurs sous boitier non hermetique dans les environnements humides. Cette edition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport a l’edition precedente: a) clarification des exigences relatives a la temperature, a l’humidite relative et a la duree d’exposition, detaillees dans le Tableau 1; b) ajout de recommandations suggerant de placer une ou des resistances dans le montage d’essai, afin d’eviter d’endommager la carte d’essai ou le dispositif soumis a essai (DUT, Device Under Test); c) specification d’une autorisation d’extension du temps d’etablissement des conditions d’essai ou du temps de retour a la contrainte.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
