Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60749-36-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 36: zrýchlenie, v rovnovážnom stave
NORMA vydaná dňa 13.2.2003
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60749-36-ed.1.0
Dátum vydania normy: 13.2.2003
Kód tovaru: NS-411410
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60749-36-ed.1.0 :
Provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test. Decrit un essai utilise pour determiner les effets dacceleration constante sur les dispositifs a semiconducteurs de type a cavite. Il sagit dun essai accelere destine a indiquer les types de faiblesses structurelles et mecaniques non necessairement detectees dans les essais de chocs et de vibrations.
Doporučujeme:
