Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60749-35-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 35: Acoustic mikroskopia pre plastové zapuzdrenie elektronických súčiastok
NORMA vydaná dňa 18.7.2006
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60749-35-ed.1.0
Dátum vydania normy: 18.7.2006
Kód tovaru: NS-411409
Počet strán: 43
Približná hmotnosť: 129 g (0.28 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60749-35-ed.1.0 :
Defines the procedures for performing acoustic microscopy on plastic encapsulated electronic components. Provides a guide to the use of acoustic microscopy for detecting anomalies (delamination, cracks, mould-compound voids, etc.) reproducibly and non-destructively in plastic packages. La presente partie de la CEI 60749 definit les procedures pour realiser la microscopie acoustique pour composants electroniques a boitier plastique. Cette norme fournit un guide d utilisation de la microscopie acoustique pour detecter les anomalies (decollement interlaminaire, fissures, vides dans le compose de moulage) de maniere reproductible et non destructive dans des boitiers en plastique.
Podobné normy:
29.7.1999
30.9.1999
16.6.2000
29.9.2000
29.10.1999
30.10.2001
Doporučujeme:
