Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 32: horľavosti plastových zapuzdrené zariadenia (externe indukovanej)
NORMA vydaná dňa 30.8.2002
Označenie normy: IEC 60749-32-ed.1.0
Dátum vydania normy: 30.8.2002
Kód tovaru: NS-411404
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits integres), cet essai determine si le dispositif prend feu en raison dune chaleur exterieure. Lessai est pratique avec un bruleur-aiguille, simulant leffet de petites flammes pouvant resulter de mauvaises conditions apparaissant dans lequipement contenant le dispositif. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 32: Inflammabilite des dispositifs a encapsulation plastique (cas d´une cause exterieure d´inflammation))
Zmena vydaná dňa 28.7.2010
Vybraný formát:
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 32: Inflammabilite des dispositifs a encapsulation plastique (cas d´une cause exterieure d´inflammation))
Oprava vydaná dňa 13.8.2003
Vybraný formát:Posledná aktualizácia: 2026-01-28 (Počet položiek: 2 257 539)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.