Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 31: horľavosti plastových zapuzdrené zariadenia (interne indukovanej)
NORMA vydaná dňa 30.8.2002
Označenie normy: IEC 60749-31-ed.1.0
Dátum vydania normy: 30.8.2002
Kód tovaru: NS-411402
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to internal heating caused by excessive overloads. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits integres), cet essai determine si le dispositif prend feu par suite dun echauffement interne du a des surcharges excessives. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 31: Inflammabilite des dispositifs a encapsulation plastique (cas d´une cause interne d´inflammation))
Oprava vydaná dňa 13.8.2003
Vybraný formát:
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-01-28 (Počet položiek: 2 257 539)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.