Pozor!

Vo Vašom prehliadači nie je aktuálne povolené spúšťanie Javascriptu. Je možné, že niektoré funkcie nebudú fungovať správne. Pre plnú funkčnosť internetového obchodu odporúčame povoliť Javascript. Tu sú inštrukcie ako povoliť JavaScript vo Vašom webovom prehliadači.

Zobrazovaná mena: €

Zobrazenie ceny: bez DPH

IEC 60749-25-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling

Automaticky preložený názov:

Polovodičové súčiastky - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 25: Teplotný cyklistika

NORMA vydaná dňa 11.7.2003

Jazyk
Prevedenie	Elektronické PDF - 104.50 € Tlačené - 104.50 € CD-ROM - 106.10 €
Dostupnosť	SKLADOM
Cena	104.50 € bez DPH
104.50 €

Informácie o norme:

Označenie normy: IEC 60749-25-ed.1.0
Dátum vydania normy: 11.7.2003
Kód tovaru: NS-411390
Počet strán: 25
Približná hmotnosť: 75 g (0.17 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC

Tlač

Odoslať známemu

Otázka

Kategórie - podobné normy:

Polovodičová zařízení obecně

Anotácia textu normy IEC 60749-25-ed.1.0 :

Provides a test procedure for determining the ability of semiconductor devices and components and/or board assemblies to withstand mechanical stresses induced by alternating high and low temperature extremes. Permanent changes in electrical and/or physical characteristics can result from these mechanical stresses. Applies to single, dual and triple chamber temperature cycling and covers component and solder interconnection testing. Fournit une procedure dessai pour determiner la capacite des dispositifs a semiconducteurs et des composants et/ou des cartes equipees a resister aux contraintes mecaniques induites en alternant des extremes de hautes et basses tempera-tures. Des variations permanentes des caracteristiques electriques et/ou physiques peuvent resulter de ces contraintes mecaniques. Sapplique aux cycles de temperature en chambre unique, double et triple et englobe les essais de composants et dinterconnexions soudees.