Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60748-23-2-ed.1.0
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 23-2: Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Internal visual inspection and special tests
Automaticky preložený názov:
Polovodičové zariadenia - Integrované obvody - Časť 23-2: Hybridné integrované obvody a filmové konštrukcia - certifikácia výrobné linky - Vnútorná vizuálna prehliadka a osobitnej skúšky
NORMA vydaná dňa 23.5.2002
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60748-23-2-ed.1.0
Dátum vydania normy: 23.5.2002
Kód tovaru: NS-411346
Počet strán: 97
Približná hmotnosť: 322 g (0.71 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60748-23-2-ed.1.0 :
Applies to high quality approval systems for hybrid integrated circuits and film structures. The purpose of the tests is to perform visual inspections on the internal materials, construction and workmanship of hybrid, multichip and multichip module microcircuits and passive elements used for microelectronic applications including r.f./microwave. These tests will normally be used on microelectronic devices prior to capping or encapsulation to detect and eliminate devices with internal non-conformances that could lead to device failure in normal application. They may also be employed on a sampling basis to determine the effectiveness of the manufacturers quality control and handling procedures.
Podobné normy:
29.8.2006
23.4.1997
30.5.1997
30.7.1988
15.5.1988
17.7.2006
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
