Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60748-20-1-ed.1.0
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits - Section 1: Requirements for internal visual examination
Automaticky preložený názov:
Polovodičové zariadenia - Integrované obvody - Časť 20: Kmeňová špecifikácia pre filmové integrovaných obvodov a hybrid filmových integrovaných obvodov - Oddiel 1: Požiadavky na vnútornej vizuálnej prehliadky
NORMA vydaná dňa 1.3.1994
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60748-20-1-ed.1.0
Dátum vydania normy: 1.3.1994
Kód tovaru: NS-411338
Počet strán: 55
Približná hmotnosť: 165 g (0.36 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60748-20-1-ed.1.0 :
The purpose of these examinations is to check the internal materials, construction and workmanship of film and hybrid integrated circuits (F and HFICs). These examinations will normally be used prior to tapping or encapsulation to detect and eliminate the F and HFICs with internal defects that could lead to device failure in normal application. Other acceptance criteria may be agreed upon with the purchaser or supplier, respectively. Le but de ces examens est de verifier les materiaux internes, la construction et la qualite dexecution des circuits integres a couches et hybrides a couches (C et CIHC). Ces examens seront normalement effectues prealablement a la fermeture du boitier ou a lencapsulation afin de detecter et deliminer les C et CIHC dont les defauts internes pourraient mener a un echec du dispositif dans son fonctionnement normal. Dautres criteres dacceptation peuvent etre negocies respectivement avec lacheteur ou le fournisseur.
Podobné normy:
22.12.1997
30.6.1988
10.4.1997
10.4.1997
10.4.1997
10.4.1997
Doporučujeme:
