Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60444-6-ed.3.0
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
NORMA vydaná dňa 1.9.2021
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60444-6-ed.3.0
Dátum vydania normy: 1.9.2021
Kód tovaru: NS-1034935
Počet strán: 41
Približná hmotnosť: 123 g (0.27 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60444-6-ed.3.0 :
IEC 60444-6:2021 applies to the measurements of drive level dependence (DLD) of quartz crystal units. Two test methods (A and C) and one referential method (B) are described. “Method A”, based on the p-network according to IEC 60444-5, can be used in the complete frequency range covered by this part of IEC 60444. “Reference Method B”, based on the p-network or reflection method according to IEC 60444-5 or IEC 60444-8 can be used in the complete frequency range covered by this part of IEC 60444. “Method C”, an oscillator method, is suitable for measurements of fundamental mode crystal units in larger quantities with fixed conditions. NOTE The measurement methods specified in this document are not only applicable to AT-cut, but also to other crystal cuts and vibration modes, such as doubly rotated cuts (IT,SC) and to tuning fork crystal units (by using a high impedance test fixture). This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: - some equations have been removed and corrected; - it has been specified in the note of the Scope that the measurement methods specified in this document are not only applicable to AT-cut but also to other crystal cuts and vibration modes. L’IEC 60444-6:2021 s’applique aux mesures de la dependance du niveau d’excitation (DNE) des resonateurs a quartz. Deux methodes d’essai (A et C) et une methode de reference (B) sont decrites. La methode A, basee sur le reseau en p conformement a l’IEC 60444-5, peut etre utilisee dans la plage de frequences complete couverte par la presente partie de l’IEC 60444. La methode de reference B, basee sur le reseau en p ou sur la methode de reflexion conformement a l’IEC 60444-5 ou a l’IEC 60444-8, peut etre utilisee dans la plage de frequences complete couverte par la presente partie de l’IEC 60444. La methode C, une methode avec un oscillateur, est adaptee pour les mesures de resonateurs sur le mode fondamental en plus grandes quantites avec des conditions fixes. Cette edition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport a l’edition precedente: - certaines equations ont ete supprimees ou corrigees; - il est specifie dans la note du Domaine d’application que les methodes de mesure specifiees dans le present document ne s’appliquent pas uniquement a la coupe AT, mais aussi a d’autres coupes de cristaux et a d’autres modes de vibration.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
