Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
Automaticky preložený názov:
Meranie kremeň parametrov zariadení nulovú fázovou technikou v pi-sieť. Časť 2: Phase offset metóda merania pohybovej kapacity kremenných kryštálových jednotiek
NORMA vydaná dňa 1.1.1980
Označenie normy: IEC 60444-2-ed.1.0
Dátum vydania normy: 1.1.1980
Kód tovaru: NS-410248
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Describes a method of measuring the motional capacitance of quartz crystal units in the frequency range 1 MHz to 125 MHz with a total measurement error of the order of 5%. Decrit une methode de mesure de la capacite dynamique des quartz dans une gamme de frequences de 1 MHz a 125 MHz avec une erreur totale de mesure de lordre de 5%.
25.7.1996
25.11.2010
9.11.2000
10.8.2000
15.8.1986
7.10.2010
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-09-11 (Počet položiek: 2 346 290)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.