Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEC 60444-2-ed.1.0
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
Automaticky preložený názov:
Meranie kremeň parametrov zariadení nulovú fázovou technikou v pi-sieť. Časť 2: Phase offset metóda merania pohybovej kapacity kremenných kryštálových jednotiek
NORMA vydaná dňa 1.1.1980
Informácie o norme:
Označenie normy: IEC 60444-2-ed.1.0
Dátum vydania normy: 1.1.1980
Kód tovaru: NS-410248
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEC
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy IEC 60444-2-ed.1.0 :
Describes a method of measuring the motional capacitance of quartz crystal units in the frequency range 1 MHz to 125 MHz with a total measurement error of the order of 5%. Decrit une methode de mesure de la capacite dynamique des quartz dans une gamme de frequences de 1 MHz a 125 MHz avec une erreur totale de mesure de lordre de 5%.
Podobné normy:
25.7.1996
25.11.2010
9.11.2000
10.8.2000
15.8.1986
7.10.2010
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
