Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Automaticky preložený názov:
Stav systému pre zabezpečenie jednotnosti meraní. Rozmerové parametre nanočastíc a tenkých vrstiev. Metóda pre meranie pomocou malého uhla rozptylu röntgenového difraktometra
NORMA vydaná dňa 1.9.2010
Označenie normy: GOST R 8.698-2010
Dátum vydania normy: 1.9.2010
Kód tovaru: NS-404491
Počet strán: 38
Približná hmotnosť: 114 g (0.25 libier)
Krajina: Ruská technická norma
Kategória: Technické normy GOST
1.11.2010
1.11.2010
1.11.2010
1.2.2008
1.2.2008
1.2.2008
Posledná aktualizácia: 2026-06-16 (Počet položiek: 2 283 261)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.