Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GOST R 71334-2024
Epitaxial structures. Method for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference
NORMA vydaná dňa 1.3.2025
Informácie o norme:
Označenie normy: GOST R 71334-2024
Dátum vydania normy: 1.3.2025
Kód tovaru: NS-1187750
Počet strán: 8
Približná hmotnosť: 24 g (0.05 libier)
Krajina: Ruská technická norma
Kategória: Technické normy GOST
Kategórie - podobné normy:
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
