Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
NORMA vydaná dňa 30.10.2009
Označenie normy: GB/T 6624-2009
Dátum vydania normy: 30.10.2009
Kód tovaru: NS-888251
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-07-08 (Počet položiek: 2 286 190)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.