Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
NORMA vydaná dňa 2.12.2025
Označenie normy: GB/T 4937.44-2025
Dátum vydania normy: 2.12.2025
Kód tovaru: NS-1252191
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-09-21 (Počet položiek: 2 302 422)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.