Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
NORMA vydaná dňa 2.12.2025
Označenie normy: GB/T 4937.44-2025
Dátum vydania normy: 2.12.2025
Kód tovaru: NS-1252191
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-08-19 (Počet položiek: 2 298 207)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.