Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
NORMA vydaná dňa 31.12.2025
Označenie normy: GB/T 4937.40-2025
Dátum vydania normy: 31.12.2025
Kód tovaru: NS-1255282
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-07-12 (Počet položiek: 2 286 472)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.