Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 45720-2025
Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
NORMA vydaná dňa 30.5.2025
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | Nie je na sklade |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 45720-2025
Poznámka: K dispozici od: září 2025
Dátum vydania normy: 30.5.2025
Kód tovaru: NS-1223631
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
