Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 43493.2-2023
Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 2: Test method for defects using optical inspection
NORMA vydaná dňa 28.12.2023
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 43493.2-2023
Dátum vydania normy: 28.12.2023
Kód tovaru: NS-1164462
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Kategórie - podobné normy:
Odporúčame:
Aktualizácia zákonov
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
