Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 43493.1-2023
Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 1: Classification of defects
NORMA vydaná dňa 28.12.2023
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 43493.1-2023
Dátum vydania normy: 28.12.2023
Kód tovaru: NS-1164461
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
