Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
GB/T 43313-2023
Test method for surface quality and micropipe density of polished silicon carbide wafers—Confocal and differential interferometry optics
NORMA vydaná dňa 27.11.2023
Informácie o norme:
Označenie normy: GB/T 43313-2023
Dátum vydania normy: 27.11.2023
Kód tovaru: NS-1164283
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Kategórie - podobné normy:
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
