Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
NORMA vydaná dňa 7.9.2023
Označenie normy: GB/T 43087-2023
Dátum vydania normy: 7.9.2023
Kód tovaru: NS-1153393
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-05-17 (Počet položiek: 2 278 942)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.