Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test method for excess-charge-carrier recombination lifetime in silicon ingots, silicon bricks and silicon wafers—Noncontact eddy-current sensor
NORMA vydaná dňa 6.8.2023
Označenie normy: GB/T 42907-2023
Dátum vydania normy: 6.8.2023
Kód tovaru: NS-1150801
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-05-17 (Počet položiek: 2 278 942)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.