Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
NORMA vydaná dňa 30.4.2026
Označenie normy: GB/T 42709.3-2026
Poznámka: K dispozici od: listopad 2026
Dátum vydania normy: 30.4.2026
Kód tovaru: NS-1269896
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-08-21 (Počet položiek: 2 298 377)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.