Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Surface chemical analysis—Depth profiling—Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
NORMA vydaná dňa 31.12.2021
Označenie normy: GB/T 41064-2021
Dátum vydania normy: 31.12.2021
Kód tovaru: NS-1047145
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB
Posledná aktualizácia: 2026-08-26 (Počet položiek: 2 298 418)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.