NEPLATNÁ GB/T 4058-1995 18.4.1995 náhľad

GB/T 4058-1995

Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers



NORMA vydaná dňa 18.4.1995


Jazyk
Prevedenie
Dostupnosťdo 3 pracovných dní
Cena386.00 bez DPH
386.00

Informácie o norme:

Označenie normy: GB/T 4058-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 18.4.1995
Kód tovaru: NS-883897
Krajina: Čínska technická norma
Kategória: Technické normy GB

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.